高纯锗探测器GEM50P4 品牌:美国Ortec晶体类型: P型高纯锗,同轴型相对探测效率: 大于50%能量响应范围: 40 Kev – 10 Mev能量分辨率: 对1.332 MeV峰(Co-60):≤1.9keV对 122 keV峰(Co-57):≤ 0.9 keV峰康比: ≥ 64:1峰形参数: FW0.1M/FWHM ≤1.9,FW0.2M/FWHM ≤ 2.6数字化谱仪DSPEC-jr2.0-POSGE-最大数据通过率:大于100kcps(低频抑制器LFR关闭);大于34kcps(低频抑制器LFR开启);-具有低频噪声抑制、自动最优化、自动极零、零死时间校正和虚拟示波器等功能;-液晶屏显示,能随时显示探测器晶体温度、高压状况、增益/零点稳定性、实时间/活时间和计数率等信息;USB2.0接口;-系统变换增益(存储器分段):由计算机选择为16,384,8192,4096,2048,1024或512道;-积分非线性 ≤±0.025%;微分非线形 ≤±1%;-数字化稳谱器:由计算机控制并稳定增益和零点;-温度系数: 增益:<35ppm/°C ;零点:<3 ppm/℃;-脉冲抗堆积:自动设定域值,脉冲对分辨率为500ns。