第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际论坛召开__资讯

第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际论坛召开

2018-09-12来源：中国科学院微电子研究所阅读量：18930

　　9月7日，第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛在江苏南通举办。此次高峰论坛由集成电路产业技术创新战略联盟指导，由中国半导体行业协会、国家集成电路产业投资基金支持，由南通市人民政府与集成电路测试仪器与装备产业技术创新联盟合主办，由南通市电子信息产业联盟与通富微电股份有限公司联合承办。

　　南通市副市长赵闻斌介绍了南通的历史环境和产业优势。当前，南通正全力打造“3+3+N”现代产业体系，并把新一代信息技术产业作为重点打造的性、龙头性、地标性产业。此次论坛以信息技术与制造技术深度融合为主线，并希望各位专家畅所欲言，为南通集成电路持续、合作、共赢的产业发展环境建言献策。

　　电路产业技术创新战略联盟理事长曹健林指出，随着集成电路产业不断发展，专用的检测及装备迎来了历史发展良机，中国市场已具备了技术和财力，只需要团结起来更好地融合到中国的发展中。此次国际高峰论坛的召开，将对进一步促进国内外集成电路检测及测试技术领域的交流与合作、推进集成电路领域产业链上下游的深度合作具有深刻意义。

　　中国科学院微电子研究所所长、测试联盟理事长叶甜春在致辞中指出，检测和测试是集成电路不可或缺的环节，也是比较弱的环节，重大专项实施10年，集成电路有了长足进展，但产业布局中测试仍为短板，需咬紧牙关，实现全面的突破与提升，并在国际产业链要占有重要的位置。同时，他指出，面向未来的发展，中国集成电路产业无疑还有巨大的发展潜力，产品多样化提出了更高的测试技术需求，测试产业未来会有更大的发展空间。测试联盟的成立和规划建立的集成电路“测谷”，其目的就是适应产业的形势变化与需求，围绕产业发展急需，聚集产业优势力量，聚焦、聚能、聚力，共同谋求发展。

　　国家集成电路产业投资基金股份有限公司总裁丁文武在讲话中提出了更多的发展建议，包括政策与环境、产业链联动协调、资本互动，引进培养人才，开放交流等，希望通过会议为测试行业发展搭建平台，让专家让企业家为产业发展献计献策，为中国芯的实现做出贡献。

　　国家科技重大专项电子信息领域监督评估专家组专家郑敏政代表测试联盟专家咨询委发言，他表示，测试技术与装备需要探索创新方法、创新技术，在大形势之下借助全产业链的发展互动，走出一条有特色的快速发展之路。

　　本次国际高峰论坛以“集成电路检测及测试平台与产业链建设”为主题，旨在进一步促进集成电路检测与测试技术领域的广泛交流与合作，探讨面临的挑战与未来发展。会议邀请了Mentor Graphics、电子科技大学、长鑫存储、上海御渡、北京智芯微电子、北京华大九天等国际、国内知名学者和产业龙头企业围绕ATE机台、光学检测、EDA设计测试等方面，进行了主题报告，并举办沙龙讨论，就测试与设计、测试开发、测试设备、测试管理、驱动测试、测试分析等在功率器件、存储器等共同关心的相关问题进行深入的交流和研讨。

　　当前，国家全面深化改革，发展壮大新动能，加快制造强国建设，其中集成电路产业始终是中国国家科技与产业支持的重点。

　　(原文标题：第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛在南通召开)

（本文来源：中国科学院微电子研究所，转载请注明出处）

上一篇：歌尔股份与山东青岛崂山区签署智能传感器项

下一篇：蓝天保卫战近3个月生态环境部已发155封督